• 키사이트 N1500A 재료 측정 소프트웨어 패키지를 이용하여 다양한 유전 및 자성체의 고유한 전자기 특성을 측정할 수 있습니다. 통합 시스템은 RF 또는 마이크로웨이브 에너지에 대한 재료의 반응을 측정하는 다기능 키사이트 네트워크 분석기를 기반으로 합니다. N1500A 소프트웨어는 네트워크 분석기를 제어하고 결과를 계산합니다. 키사이트 네트워크 분석기와 사용하는 샘플 홀더나 고정구에 따라 주파수 범위는 수백 MHz에서 수 THz까지 확장될 수 있습니다.
  • E4982A LCR 미터는 고주파수(1MHz ~ 3GHz)에서의 임피던스 테스트가 필요한 SMD 인덕터 및 EMI 필터 등의 패시브 구성요소 제조를 위한 최상의 성능을 제공합니다. 제조에서뿐만 아니라 E4982A는 리스트 측정과 같은 강력한 기능을 이용한 R&D, 품질 보증에도 활용할 수 있습니다.
  • E4981A 캐패시턴스 미터는 생산 라인에서 세라믹 캐패시터 테스트를 위한 고속의 신뢰할 수 있는 측정을 지원합니다. E4981A는 정확한 측정으로 작은 값에서 큰 값에 이르는 캐패시턴스 측정 기능을 실현했습니다. 테스트 처리율을 향상시키면서 세라믹 캐패시터 테스트를 위한 탁월한 구성요소 품질을 달성했습니다.
  • • 세 가지 주파수 옵션: 1 MHz ~ 500 MHz / 1 GHz / 3 GHz 업그레이드 가능
    • ±0.65%의 기본 정확도 및 120 mΩ ~ 52 kΩ의 임피던스 범위(10% 측정 정확도 범위)
    • 측정 파라미터: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, |Γ|, Γx, Γy, θΓ, Vac, Iac, Vdc1, Idc1(1. 옵션 001이 필요함)
    • 내장형 DC 바이어스(옵션 001): 0 V ~ ±40 V, 0 A ~ ±100 mA
    • 유전/자성 재료 측정(옵션 002): |εr|, εr', εr'', tanδ(ε), |μr|, μr', μr'', tanδ(μ)
    • 온도 특성 측정(옵션 007) 및 신뢰할 수 있는 온웨이퍼 측정(옵션 010) 기능
  • • 다섯 가지 주파수 옵션, 20Hz ~ 10/20/30/50/120MHz, 업그레이드 가능
    • ±0.08%(일반 ±0.045%)의 기본 임피던스 측정 정확도
    • 25mΩ ~ 40MΩ의 넓은 임피던스 측정 범위(10% 측정 정확도 범위)
    • 측정 파라미터: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, Complex Z, Complex Y, Vac, Iac, Vdc, Idc
    • 내장형 DC 바이어스 범위: 0V ~ ±40V, 0A ~ ±100mA
    • 향상된 측정 스피드 옵션 (옵션 001. 10M/20M/30M/50M 옵션만 해당)
    BEST