• B1506A 일반적인 특징
    • 최대 3kV/1500A의 Wide 동작 범위
    •50 °C ~ +250 °C의 완전 자동화 고속 열 테스트
    •자동 전원 장치(서머 및 구성요소) 데이터시트 생성
    •자동 기록 기능으로 데이터 손실 방지

    B1506A IV 패키지 기능
    •패키지 및 온 와퍼 장치 모두에 대해 완전 자동화된 고속 IV 측정(Ron, BV, Leakage, Vth, Vsat 등)
    •실제 장치 성능을 노출하기 위한 장치 자체 발열을 방지하기 위한 화살표 IV 펄스 폭(10μs까지)
    •Oscillcope view(시간 영역 보기)를 통해 정확한 측정을 위해 실제 전압/전류 펄스 파형을 모니터링
    •CV 및 Qg를 추가하기 위한 확장 가능한 구성, 20A에서 500A, 1500A까지 전류 범위 확장

    B1506A 전체 패키지 기능
    •모든 IV 패키지 기능
    •패키지 장치의 경우 3kV에서 트랜지스터 입력, 출력 및 역방향 전송 캐패시턴스(Ciss, Coss, Crss, Cies, Coes, Cres) 및 게이트 저항(Rg) 측정
    •패키지 장치의 게이트 충전(Qg) 곡선 측정
    • 전력 손실(전도, 주행 및 스위칭 손실) 계산
  • 주요 특징 및 사양
    광범위한 작동 조건에서 정밀 측정
    •최대 1500A 및 10kV까지 전력 디바이스 특성분석을 위한 통합 올인원 솔루션
    •고전압 바이어스를 통한 중전류 측정(예: 1200V에서 500mA)
    • μΩ 온저항 측정 기능
    •고전압 바이어스에서 정확한 sub-picoamp 레벨 전류 측정
    • -50℃~+250 ℃ 범위의 온도를 완벽히 자동 테스트

    광범위한 디바이스 평가 기능
    •최고 3000V에 이르는 DC 바이어스에서 완전 자동화된 커패시턴스(Ciss, Coss, Crss, etc.) 측정
    •최하 10μs까지 고전력 펄스형 측정
    •패키지형 디바이스와 온웨이퍼 IGBT/FET 게이트 전하를 모두 측정
    • GaN 전류 붕괴 효과 특성화를 위한 고전압/고전류 고속 스위치 옵션
    •고전압(3kV) 소스/측정 채널 최대 5개로 유연성 극대화
    •인터록이 장착된 테스트 픽스처를 통해 안전한 가변 온도 테스트

    개선된 측정 효율성
    •재 케이블링 없이 고전압과 고전류 측정 사이의 전환
    •패키지형 디바이스와 온웨이퍼 디바이스 둘 모두의 트랜지스터 접합 커패시턴스(Ciss, Coss, Crss, Cgs, Cgd, Cds 등)를 위한 자동 테스트 회로 형성
    •안전 인터록을 제공하는 표준 테스트 픽스처로 패키지된 전력 디바이스 테스트 지원
    • 200A 상에서 최대 10kV까지 안전한 온웨이퍼 고전력 테스팅
    •적용된 전압과 전류 파형 검증을 지원하는 오실로스코프 디스플레이
    • MS Windows 기반의 EasyEXPERT 소프트웨어로 데이터 관리 및 데이터 분석 수월

    업그레이드 및 확장이 가능한 하드웨어 아키텍처
    •광범위한 측정 모듈 선택의 폭
    •최대 6 핀의 고전력 디바이스 지원
  • 일반 기능
    • Windows Embedded Standard 7 (WES7) OS 및 EasyEXPERT group+ 소프트웨어가 탑재된 PC 기반 계측기
    • 전류-전압(IV), 캐패시턴스-전압(CV), 펄스 발생, 빠른 IV 및 시간 도메인 측정을 위한 원박스 솔루션
    • Source Measure Unit (SMU) 및 기타 모듈 유형(MFCMU, HV-SPGU 및 WGFMU)을 위한 모듈 슬롯 10개
    • Desktop EasyEXPERT group+ 소프트웨어를 통한 오프라인 데이터 분석 및 어플리케이션 테스트 개발