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E4991B 임피던스 분석기

E4991B 임피던스 분석기

  • 최대 주파수 : 20Hz to 120MHz
  • 기본 정확도 : 0.08%
  • DC 바이어스 : 0V to ±40V
  • 측정 범위 : 25MΩ to 40MΩ
  • 연결 방식 : GPIB, USB, LAN

최대 주파수

20Hz to 120MHz

기본 정확도

0.08%

DC 바이어스

0V to ±40V

측정 범위

25MΩ to 40MΩ

연결 방

GPIB, USB, LAN

주요특징

키사이트 E4991B 임피던스 분석기는 전자 콤포넌트, 반도체 디바이스, 재료의 특성을 분석하고 평가하기 위한 완벽한 솔루션입니다.

  • 업그레이드 가능한 세 가지 주파수 옵션: 1 MHz ~ 500 MHz/1 GHz/3 GHz
  • 기본 정확도 ±0.65% 및 120mΩ ~ 52kΩ의 임피던스 범위(10% 측정 정확도 범위)
  • 측정 파라미터: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, |Γ|, Γx, Γy, θΓ, Vac, Iac, Vdc1, Idc1 (option 001)
  • 내장된 DC 바이어스(옵션 001): 0 V ~ ±40 V, 0 A ~ ±100 mA
  • 10.4인치 컬러 LCD(터치 스크린)의 4채널 및 4트레이스
  • 데이터 분석 기능: 등가 회로 분석, 한계선 테스트
  • 유전체/자성 재료 측정(옵션 002): |εr|, εr’, εr”, tanδ(ε), |μr|, μr’, μr”, tanδ(μ)

 

온도 특성 측정(옵션 007) 및 신뢰할 수 있는 온웨이퍼 측정(옵션 010) 기능

재료 측정 옵션은 온도 특성 분석 기능(옵션 007)과 유전율 및 투과도의 직접 판독 기능(옵션 002)을 제공합니다.

프로브 스테이션 연결 키트(옵션 010)는 최대 3 GHz의 정확한 온웨이퍼 또는 마이크로 구성 요소 임피던스 측정 솔루션을 제공합니다.

E4991B는 간단하고 신뢰할 수 있는 측정을 수행하도록 설계된 광범위한 테스트 액세서리를 지원합니다.

R&D 팀인지, QA 또는 검사 팀인지에 관계없이, E4991B는 전자 구성요소, 반도체 디바이스 및 재료의 특성을 분석하고 평가하기 위한 이상적인 솔루션입니다.

재료 측정에서 E4991B는 N1500A-005 재료 측정 제품군과 함께 사용되며 픽스처 설정부터 보고서 생성까지 용이한 측정(최대 1 GHz)을 제공합니다.

제품사양
Basic Accuracy 0.65% DC 바이어스 0 V to ±40 V, 0 A to ±100 mA (option 001)
주파수 3 GHz 최대 주파수 3GHz
Measurement RF-IV method 측정 범위(정확도 10%) 120 mΩ to 52 kΩ
Measurements Capacitance Target DUT
General Purpose device
Material
E4991B
Frequency Range 1 MHz to 3 GHz (Option 300)
1 MHz to 1 GHz (Option 100)
1 MHz to 500 MHz (Option 050)
Resolution 1mHz
Accuracy without Option 1E5 ± 10 ppm (23 °C ± 5 °C)
± 20 ppm (5 °C to 40 °C)
Accuracy with Option 1E5 ± 1 ppm (5 °C to 40 °C)
Stability with Option 1E5 ± 0.5 ppm/year (5 °C to 40 °C) (typical)
액세서리
악세사리 코드 악세사리 정보
16092A Spring clip fixture for Lead Components
16196A Parallel electrode SMD test fixture, DC to 3GHz
16192A Parallel electrode SMD test fixturec DC to 2 GHz
16196D
Parallel Electrode SMD Test Fixture, DC to 3 GHz
16196B Parallel electrode SMD test fixture
16196D Parallel electrode SMD test fixture
16197A Bottom electrode SMD test fixture
16198A Bottom electrode SMD test fixture
16453A Delectric material test
16200B external DC bias adapter
16454A magnetic material test fixture
16194A High temperature component test fixture –55 to +200°C

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