메모리 어플리케이션 테스트 솔루션

메모리 테스트 솔루션

[Introduction]
본 솔루션은 Keysight B2900 SMU, E4980A LCR Meter, 81150A/81160A Pulse Generator, 그리고 CX3300A Current Waveform Analyzer를 통합하여
Memory Device의 전기적 특성을 정밀하게 분석하기 위한 All-in-One 자동화 측정 솔루션입니다.

본 솔루션은 한 번의 Setup으로 IV, 동적 Pulse, 및 주파수 특성(CV)을 모두 측정 가능하며,
데이터 간 Cross-Correlation 분석 (IV ↔ Pulse ↔ CV)을 지원하여 소자의 전하 저장 및 스위칭 특성을 정량적으로 평가합니다.

[System Configuration]
[ SMU ] Keysight B2900C / PZ2100A : DC IV 특성, Leakage, Threshold, Retention 등 정적 전류 측정
[ LCR Meter ] Keysight E4980B : Capacitance-Voltage (CV) 측정
[ Pulse Generator ] Keysight 81150A / 81160A : Double Pulse 신호 출력 (Voltage/Current Stress)
[ Waveform Analyzer ] Keysight CX3300A : 펄스 구간의 실시간 전류 파형 측정, ns 단위 분석
[ Custom Fixture / Probe Station ] Customize : DUT 소켓, 보호회로, 신호 경로 최적화 설계
[ Control S/W ] A-VIEW : 장비 제어·동기화, 시퀀스 제어, 실시간 Plot 및 리포트 생성

[Main Specific]
One-Stop Measurement
하나의 시스템에서 IV / CV / Double Pulse / Dynamic Current 동시 측정
측정 시퀀스 자동 전환 (SMU → Pulse → CV 순차 수행)

Initialize
Pulse Generator – CX3300A – SMU 간 하드웨어 트리거 동기화
펄스 경과 중 실시간 전류 파형 분석

Data Analyzer
Double Pulse 전후의 CV 변화로 Charge-Trap 특성 확인
IV Curve 변화로 Switching Memory의 Retention 및 Endurance 평가

[A-View S/W]
전용 GUI 및 자동화 제어
C++기반 사용자 친화형 UI
실시간 Plot (IV, CV, Pulse Waveform)
Excel / CSV / PDF Report 자동 생성