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데이터 수집 제어 장치 (DAQ)

데이터 수집 제어 장치 (DAQ)

  • 최대 스캔속도 : 450ch/sec
  • 최대 샘플링속도 : 800kSa/sec
  • 최대 전압 : 300V
  • 최대 전류 : 1A
  • 슬롯 : 3slot
  • 최대 스캔속도 : 450ch/sec
  • 최대 샘플링속도 : 800kSa/sec
  • 최대 전압 : 300V
  • 최대 전류 : 1A
  • 슬롯 : 3slot
  • 최대 스캔속도 : 1000ch/sec
  • 최대 대역폭 : 45MHz
  • 최대 전압 : 300V
  • 최대 전류 : 7A
  • 슬롯 : 7slot
  • 최대 스캔속도 : 450ch/sec
  • 최대 전압 : 300V
  • 최대 전류 : 1A
  • 대역폭 : 20MHz
  • 열 오차 : 0µV
  • 최대 스캔속도 : 250ch/sec
  • 최대 전압 : 300V
  • 최대 전류 : 50mA
  • 대역폭 : 10MHz
  • 열 오차 : <4µV
  • 최대 스캔속도 : 120ch/sec
  • 최대 전압 : 300V
  • 최대 전류 : 1A
  • 대역폭 : 10MHz
  • 열 오차 : <1µV
  • 최대 스캔속도 : 120ch/sec
  • 최대 전압 : 300V
  • 최대 전류 : 1A
  • 대역폭 : 10MHz
  • 열 오차 : <1µV
  • 최대 스캔속도 : 60ch/sec
  • 최대 전압 : 42V
  • 최대 전류 : 0.7A
  • 대역폭 : 2GHz
  • 열 오차 : <4µV

 

  • 최대 스캔속도 : N/A
  • 최대 전압 : 42V
  • 최대 전류 : 400mA
  • 대역폭 : 100kHz
  • 열 오차 : N/A

 

  • 최대 스캔속도 : 100ch/sec
  • 최대 전압 : 300V
  • 최대 전류 : 1A
  • 대역폭 : 10MHz
  • 열 오차 : N/A
  • 최대 스캔속도 : 800 kSa/s
  • 최대 전압 : 36 Vpk
  • 최대 전류 : N/A
  • 대역폭 : N/A
  • 열 오차 : N/A
  • 최대 스캔속도 : 80ch/sec
  • 최대 전압 : 40Vpk
  • 최대 전류 : 1A
  • 대역폭 : 10MHz
  • 열 오차 : 0µV